Дифракционные методы изучения материалов и приборных...

Main
Дифракционные методы изучения...

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия. Учебное пособие

Бублик В.Т., Щербачев К.Д., Воронова М.И.

0 / 0

Koliko vam se sviđa ova knjiga?

Kakav je kvalitet fajla?

Preuzmite knjigu radi procene kvaliteta

Kakav je kvalitet preuzetih fajlova?

Jezik:

russian

Strane:

84

ISBN 10:

5876239828

ISBN 13:

9785876239822

Fajl:

PDF, 4.84 MB

IPFS:

,

russian0

Čitati Online

Konvertovanje u je u toku

Konvertovanje u nije uspešno

Možda će vas zanimati

Бублик В.Т., Щербачев К.Д. — Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур. Учебное пособие

Ткалич В.Л., Макеева А.В., Оборина Е.Е. — Физические основы наноэлектроники. Учебное пособие

Новиков Б.Ю. — Методические указания к выполнению лабораторных работ по дисциплине «Компьютерное моделирование». Учебно-методическое пособие

Столярчук М.В., Дёмичев И.А., Сидоров А.И. — Квантово-химическое моделирование молекулярных кластеров в программе ADF. Учебное пособие по выполнению лабораторного практикума

Шахно Е.А. — Аналитические методы расчета лазерных микро- и нанотехнологий. Учебное пособие

Деркач, В — Электроннозондовые устройства

Таурит Е.Б. — Изыскание и проектирование транспортных сооружений. Методические указания к выполнению лабораторных работ

Мазилкина Е.И. — Искусство успешной презентации. Практическое пособие

Л.К. Андрусевич — Антенны и распространение радиоволн

Дружинин B.C., Сикан А.В. — Методы статистической обработки гидрометеорологической информации

Кузнецов Н.Л. — В домашней мастерской рыболова

Норден А.П. — Теория поверхностей

Мельник Ю.А. — Радиолокационные методы исследования Земли

Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М. — Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов

Воробьев Л.Е. — Горячие электроны в полупроводниках и наноструктурах

Карькина Л.Е., Яковенкова Л.И. — Моделирование атомной структуры дефектов в кристаллах

Тимченко Е.В. — Взаимодействие лазерного излучения с веществом

Травин Г.А. сост. Фомин Д.В., Дубов В.Л. — Выполнение расчетно-графической работы по теме «Растровая электронная микроскопия»

Андрусевич Л.К., Ищук А.А., Лайко К.А. сост. Багров Б.М. — Антенны и распространение радиоволн

Смирнов С.В. сост. Багров Б.М. — Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

Лысов Н.А., Минаев Ю.Л., Вопилин В.С., Супильников А.А., Чебыкина А.В. ред. Иньков Ю.М., Ковалев Ф.И. — Медицинская информатика. Часть 1

сост. Чечуев В.Я., Викулов С.В., Дзю И.М. — Элементы геометрической и волновой оптики. Учебное пособие

Гуфан А.Ю., Гуфан К.Ю. — Применение методов теории вероятностей при интерпретации дифрактограмм твердых растворов. Учебное пособие

пер. Ларина Э.В., Хмелев С.В. — Регламент Совета ЕС 428/2009 от 5 мая 2009 года, устанавливающий режим для контроля за экспортом, перемещением, продажей и транзитом продукции двойного назначения на территории Сообщества (новая редакция)

coll. — Физико-химические основы процессов очистки воды. Учебное пособие

Юрчук С.Ю. — Компьютерное моделирование нанотехнологий, наноматериалов и наноструктур. Математическое моделирование фотолитографических процессов и процессов электронной литографии при создании субмикронных структур и структур с нанометровыми размерами. Курс лекций

Коузов П.А. — Основы анализа дисперсного состава промышленных пылей и измельченных материалов

Алексеев Е.В., Викулина В.Б., Викулин П.Д. — Моделирование систем водоснабжения и водоотведения. Учебное пособие

Нагорнов О.В. — Обратные задачи палеотермометрии

Вовченко Е.Д. — Лазерные методы диагностики плазмы

— Деловая и презентационная графика

Тронин В.Н. — Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела

А.М.Афанасьев, П.А.Александров, Р.М.Имамов — Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев

Кузьмич Ю.В., Колесникова И.Т., Серба В.И., Фрейдин Б.М. — Механическое легирование

Уилфред Курц, Дэвид Фишер — Фундаментальные основы затвердевания

Najčešći pojmovi